Nuevos productos de microscopia de sonda de barrido

27/03: Veeco introduce la tecnología SPM de 5ª generación; los nuevos sistemas cuentan con Easy-AFM(TM) y funciones de captura de datos más rápidas

Veeco Instruments Inc. (Nasdaq: VECO), uno de los principales proveedores de instrumental para la comunidad de la ciencia y la investigación, ha anunciado hoy el lanzamiento de dos nuevos productos de microscopía de sonda de barrido (SPM, por sus siglas en inglés) para una amplia gama de aplicaciones industriales y de investigación: el MultiMode(R) V SPM y el Dimension(R) V SPM.

Ambos productos llevan incorporado el Nanoscope(TM) V, un controlador avanzado de alta velocidad perteneciente a la última generación de Veeco, lo que permite a los investigadores observar sucesos a escala molecular más rápidos, captar más información en cada imagen y trabajar con la simplicidad de “un botón”.

Fuente: phx.corporate-ir.net

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