Keithley Instruments, un desarrollador de plataformas y equipos avanzados de pruebas eléctricas con sede en Cleveland, ha publicado recientemente un póster con información detallada sobre las metodologías y directrices de medición en nanotecnología.
Se puede obtener un ejemplar gratuito del póster, denominado «Measurement Techniques for Characterizing Graphene, Carbon Nanotubes, and Nano-materials and Devices: Low Power, Low Voltage, Low Resistance» (Técnicas de medición para la caracterización de grafeno, nanotubos de carbono y nanomateriales y dispositivos: de baja energía, baja tensión y baja resistencia), solicitándolo a la empresa la empresa (http://www.keithley.com).
El póster ha sido dividido en diferentes categorías, como: técnicas de medición de la diferencia de potencial (tensión de Hall) y mediciones de resistividad; técnicas de medición de la resistencia como función de la tensión de la puerta; circuito para medir la familia de curvas del drenador en un nanotubo de carbono; y evitar las fuentes de error en la medición de dispositivos y materiales de baja energía.
Keithley colabora con organizaciones como el Instituto de Ingenieros Eléctricos y Electrónicos (IEEE), destacados Centros de Excelencia de Nanotecnología, empresas clientes y otros minoristas dedicados a la venta de equipos de medición de nanotecnología con el fin de desarrollar complejas plataformas de pruebas a nanoescala.
