Avances en los Microscopios de Fuerza Atómica

Un nuevo Microscopio de Fuerza Atómica revoluciona la formación de imágenes basada en nanotecnología 09/02

Investigadores de Georgia Tech han creado un microscopio de fuerza atómica (AFM, por sus siglas en inglés) extremadamente sensible, capaz de formar imágenes ópticas a alta velocidad; 100 veces más rápido que los microscopios de fuerza atómica actuales. Esta tecnología sería de un valor incalculable para muchos tipos de investigación en el campo de la nanotecnología, especialmente para la calibración de instrumentos microelectrónicos y la observación de interacciones biológicas rápidas a escala molecular, pudiendo incluso transformarlas en películas de interacciones moleculares en tiempo real.

Esta investigación, financiada por la Fundación Nacional de la Ciencia (NSF) y los Institutos Nacionales de la Salud (NIH), figura en el ejemplar de febrero de Review of Scientific Instruments. FIRAT™ (Force sensing Integrated Readout and Active Tip) no sólo es mucho más rápido que el AFM (actualmente, instrumento fundamental de la nanotecnología), si no que además puede registrar otras magnitudes imposibles de lograr con este último, incluida la formación de imágenes de las propiedades de los materiales y los análisis moleculares en paralelo para el descubrimiento y la selección de fármacos.

FIRAT también podría acelerar la metrología de semiconductores e incluso permitir la fabricación de dispositivos más pequeños. Para algunas aplicaciones se puede añadir, sin apenas esfuerzo, a los sistemas AFM existentes.

Fuente: http://www.gatech.edu
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