La tomograf\u00eda de electrones es una manera potente de obtener im\u00e1genes de los materiales con una resoluci\u00f3n extremadamente alta, pero el m\u00e9todo no pueden proporcionar im\u00e1genes 3D a escala at\u00f3mica por varias razones. Ahora, unos investigadores de los EE.UU. dicen que podr\u00edan haber superado algunas de las limitaciones de la t\u00e9cnica, en un nuevo enfoque denominado \u00abequally sloped tomography\u00bb. El avance ser\u00e1 de gran ayuda para la obtenci\u00f3n de im\u00e1genes de nanomateriales, incluyendo muestras biol\u00f3gicas.<\/p>\n
Actualmente no hay un modo directo de determinar la estructura de muestras en 3D a escala at\u00f3mica sin conocer primero la estructura de entramado de la part\u00edcula y dar por hecho que los \u00e1tomos encajan exactamente en dicho entramado. Jianwei Miao y sus colegas de la Universidad de California, Los \u00c1ngeles (UCLA) y el Laboratorio Nacional Lawrence Berkeley afirman haber realizado los primeros experimentos en los que es posible obtener directamente im\u00e1genes de estructuras 3D sin depender de la informaci\u00f3n que se tiene a priori.<\/p>\n
Miao y sus colaboradores han superado los problemas aplicando un m\u00e9todo de alineamiento novedoso, combinado con una t\u00e9cnica de reconstrucci\u00f3n tomogr\u00e1fica iterativa, utilizando un microscopio electr\u00f3nico de trasmisi\u00f3n de barrido del campo oscuro anular (ADF-STEM, por sus siglas en ingl\u00e9s).<\/p>\n